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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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簡(jiǎn)要描述：QS檢測(cè)器的測(cè)試箱（在當(dāng)下模式下），不包含支架（推薦型號(hào)STAND-D-233）。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-05-17訪 問(wèn) 量：371
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