一種用于在波長范圍內進行高靈敏度偏振測量的多功能系統

偏振測量長期以來一直是Hinds儀器的專業技術，在新的交鑰匙雙PEM研究中，STOKES偏振計系統是為測量光的斯托克斯參量提供高靈敏度的下一步，該系統在光學元件表征、光學系統光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面有著廣泛的應用。整套統包括兩個光彈性調制器（PEM），可在單次測量中生成全部4個斯托克斯參數。 Hinds 儀器公司很高興為該系統提供多種選擇，單波長，多波長或光譜測量。前緣敏感性與重復性利用Hinds儀器公司光彈性調制器(PEM)技術，該系統提供了高水平的偏振測量。此外，PEM還提供高速操作，根據所需波長在37~100 kHz之間進行調制。由于PEM是基于共振調制的，因此該系統能夠提供完整的Stokes測量，不需要移動部件，因此保證了精度和可重復性。為適合您需求的系統提供廣泛的選項， 雙重PEM偏振計有多種選擇配置。 該系統可以配置為單一波長或跨越多個波長范圍進行測量。 系統可用于可見光、近紅外、紅外和深紫外。該軟件包旨在校準用于更改波長的PEM，并提供光纖輸入。

雙 PEM Stokes偏振計可測量入射光的所有四個斯托克斯參數。 這種光可以來自激光、光纖或寬帶光源。 用于測量和實時顯示每個規范化Stokes參數的值，以及龐加萊球體上的位置。 DOP、DOLP和DOCP也會顯示出來。該系統的設計消除了移動部件，非常適合潔凈室使用，同時也消除了旋轉調制技術固有的耗時收集和不準確性。 PEM還允許在每秒超過100個標準化斯托克斯參數集的情況下進行快速測量。 光束由兩個PEM調制。 這種雙重調制意味著在光學系統中只需要一個檢測器。電子信號可以通過波形的傅里葉分析或鎖相放大器來處理，這取決于應用的要求。由HiNDS儀器開發的軟件算法將電子模塊的信號電平轉換為可以確定斯托克斯參數。

計算機使用兩個調制器的第1次諧波和二次諧波來確定偏振信息。數據以數字和圖形的形式顯示出來，并保存歸檔。

Strokes  偏振計規格

（不同系統有不同的規格，下面所示的規格是針對可見光偏振計的，請聯系Hinds 儀器代理商了解更詳細的清單）

 波長范圍：400 - 700 nm（可用于將單個系統擴展到從真空紫外線到中紅外的其他波長范圍的型號）

 Stokes參數準確度：優于1％

 Stokes參數靈敏度：0.0001

 可用的光纖兼容選項

Strokes  偏振計主要特點

 定制配置

 完整的斯托克斯矢量表征

 無移動組件

 波長的瞬時變化

 便攜和堅固

 大接收角度

 波長范圍：130 nm至18 um

 單一測量矢量表征

 高速調制

 高靈敏度（信號靈敏度選項為pW）

應用

 質量控制測試和測量

 材料特性

 藥物開發和質量控制

 光學旋轉

 電信設備制造

 SOP 和 DOP確定

 天文偏振

 光譜應用

 空閑空間或光纖選項測量