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夏克哈特曼傳感器集合了干涉儀、光束分析儀、自準直儀及四象限探測器優點于一身，具有測量速度快、精度高、尺寸小巧的特點。

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干涉儀：非接觸式技術檢測拋光平面和球面的精度（功率、不規則度）；測試表面半徑；檢測目標傳輸波前畸變（TWD)。

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Optikos相機測試系統Meridian Starfield采用緊湊型高精度設計，適用于生產線末端相機測試，或在大批量生產中對相機組件進行主動校準。

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Optikos OpTest®光學測量與測試系統融合了光學和光機工程領域的新技術與創新結果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學元件、機械部件和電子元件組成，進而提供全面的鏡...

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LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀，靈活擴展的平臺能夠應對更廣泛的測量 (例如：MTF、EFL、畸變等) 。

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圓二色性測量系統使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管

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各向異性測量系統2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數據。

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Strokes 偏振計在光學元件表征、光學系統光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面有著廣泛的應用。

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雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業材料。

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